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晶体硅体少子寿命的测试方法; 晶体硅体少子寿命的测试方法; 晶体硅体少子寿命的测试方法; 晶体硅体少子寿命的测试方法; 晶体硅体少子寿命的测试方法; 晶体硅体少子寿命的测试方法; 晶体硅体少子寿命的测试方法; 晶体硅体少子寿命的测试方法 | |
叶继春; 潘淼; 高平奇; 韩灿 | |
2017-08-25 | |
Application Date | 2014-11-21 |
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Application Number | 2147483647 |
Agency | 华进联合专利商标代理有限公司北京分公司 |
Document Type | 专利 |
Identifier | http://ir.nimte.ac.cn/handle/174433/21219 |
Collection | 专利成果 |
Affiliation | 中国科学院宁波材料技术与工程研究所 |
First Author Affilication | 中国科学院宁波材料技术与工程研究所 |
Recommended Citation GB/T 7714 | 叶继春,潘淼,高平奇,等. 晶体硅体少子寿命的测试方法, 晶体硅体少子寿命的测试方法, 晶体硅体少子寿命的测试方法, 晶体硅体少子寿命的测试方法, 晶体硅体少子寿命的测试方法, 晶体硅体少子寿命的测试方法, 晶体硅体少子寿命的测试方法, 晶体硅体少子寿命的测试方法[P]. 2017-08-25. |
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